Ottieni prestazioni di vuoto superiori per SEM e TEM
Le pompe SAES per alto vuoto e ultra-alto vuoto (UHV) offrono vantaggi senza pari per la microscopia elettronica, garantendo ambienti sottovuoto stabili e puliti, fondamentali per ottenere la migliore risoluzione delle immagini e la massima accuratezza dei dati nei microscopi elettronici a scansione (SEM), nei microscopi elettronici a trasmissione (TEM) e nei sistemi a fascio ionico focalizzato (FIB).
Mantenendo un vuoto superiore nella camera del cannone elettronico, le pompe SAES contribuiscono a ridurre la contaminazione, consentono una maggiore stabilità del fascio e migliorano le prestazioni complessive degli strumenti avanzati di microscopia elettronica. Questa tecnologia collaudata ha sostenuto risultati scientifici di grande importanza, come le immagini TEM ad alta risoluzione che hanno svolto un ruolo chiave nello sviluppo di un vaccino a mRNA contro il Covid-19.
Dai laboratori accademici alle applicazioni nel settore dei semiconduttori, le soluzioni per il vuoto SAES garantiscono prestazioni affidabili e prive di vibrazioni per analisi superficiali all’avanguardia, caratterizzazione di nanostrutture, ricerca nel campo delle scienze della vita e dei materiali, nonché metrologia nella produzione di semiconduttori.
Tecnologie innovative per risultati eccezionali
Design compatto & leggero
Solo 2,2 kg di peso della pompa, che riduce le vibrazioni e facilita l’installazione.
Alta Velocità di Pompaggio
Elevata velocità di pompaggio per H2 e gas reattivi, per una pressione inferiore e una maggiore durata della sorgente elettronica.
Pompa Senza Alimentazione
La tecnologia SAES permette il pompaggio senza alimentazione, consentendo ai produttori di trasportare i microscopi già in vuoto e in assenza di batterie.
Ne consegue il vantaggio di poter installare il microscopio più rapidamente, dal momento che non è necessario scaldare di nuovo la camera della sorgente elettronica nel sito dell’utilizzatore finale.
Un altro benefit molto apprezzato è il rapido ripristino d’uso del microscopio in caso di interruzione accidentale dell’alimentazione.
